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NXP借助泰瑞达Portbridge与Lauterbach TRACE32提速产品上市

导语:随着芯片复杂度持续攀升,芯片的调试面临诸多严峻挑战。工程师需应对复杂的软硬件交互问题,而对这些问题的根本

芯片复杂度推动自动测试设备不断创新

半导体技术的创新,例如AI高性能计算(HPC)、埃米级硅工艺节点、硅光子技术和汽车xEV宽带隙功率晶体管应用等

半导体测试技术变革:迈入AI时代

原文转发自“Semiconductor Engineering”。 数据密集型应用持续爆发式增长,推动全球半导

智能电池管理增强电动汽车购买者信心

原文转发自“Battery & Electrification Technology Magazine

优化自动测试设备(ATE):提升质量并应对复杂度挑战

原文转发自“EE Times”。   AI正在改变世界,推动前所未有的增长与创新。高性能芯片作为这场

复杂异构集成推动半导体测试创新

先进封装和芯粒需要复杂而灵活的测试策略 异构集成正在推动半导体行业发展创新,而与此同时,这项技术也增加了芯片设

半导体生态系统如何应对全球挑战

在法规变化、技术发展和人才流动的大环境下,测试市场的领军企业扮演着举足轻重的角色 半导体产业正经历快速变革。多

碳化硅和氮化镓对半导体测试提出新挑战

在电动汽车(EV)引领时代潮流的背景下,各种新技术层出不穷以紧跟不断变化的市场需求。其中,采用碳化硅(SiC)

芯粒的行业标准及其在测试中的作用

随着半导体行业日渐朝着芯粒、2.5D/3D 封装以及异构集成方向迈进,测试领域正面临着全新且严峻的挑战。以泰瑞

ETS-800:新一代汽车测试平台,高效产能,加速上市

ETS-800旨在提供全面的功能测试覆盖,兼具强大的模拟和数字能力,测试质量达到汽车行业标准。出色的APEX架

媒体联络人

 

Traci Tsuchiguchi

Investor Relations

investor.relations@teradyne.com

公司LOGO

 

泰瑞达公司标志的高分辨率版本