UltraWaveMX44

新型UltraWaveMX44设备，能够帮助用于毫米波应用的半导体器件，更快推向市场，并提高产品良率。

UltraFLEX 用户可借助 UltraWaveMX44 将 UltraWave24 的频率扩展至 44GHz，实现按照 5G-NR 标准对产品进行测试，同时确保测试接口板 (DIB) 与对接的兼容性完全不受影响。

备受赞誉的的 IG-XL 测试软件环境使简单编程成为可能，可实现快速的测试程序开发。 与板卡硬件相互集成的交互式调试显示器，形成了一个直观的软件系统，可大限度减少培训并加快产品上市速度。

泰瑞达的 UltraWaveMX44 的测试范围涵盖本地 5G-NR 调制与解调，并配备了采用行业标准波形算法的集成化 ESA 工具包，用于进行波形调制与解调，从而简化了从实验室到 ATE (bench-to-ATE) 之间的复杂相关性。

UltraWaveMX44 支持针对晶圆、封装芯片、模块及无线空口(OTA) 应用进行产品特性分析以及量产器件测试。 NIST 可追溯的校准集成电路可提供优越的仪器性能、可重复结果以及测试设备之间的相关性。 此外，测试范围全面覆盖 5G 多天线波束成形器件。

高性能仪器

仪器内部的专利主动式热控制系统保证了温度的稳定性，可确保在工程及生产环境中达到高性能规格。 UltraWaveMX44 配备了集成化的功率检波器，提供针对规格的可追溯性。 该仪器的频率范围为 6GHz 至 44GHz。 此外，仪器还具备 800MHz 带宽，通过其高性能通道，可获得比 2GHz 更高的带宽。 支持射频和中频接口，测试范围可覆盖 5G 中频收发器和 5G 射频波束成形器。 工作范围从 100MHz 至 6GHz 的低相位噪声待测芯片专用基准时钟，为具备集成化 PLL 的器件提供了精确的基准时钟。

精简的测试接口板 (DIB) 设计

UltraWaveMX44 是 UltraFLEX 系统中的一个单插槽的设备，并可作为 UltraWave24 RF 设备的扩展。 该仪器提供专用的毫米波频率盲插式同轴测试接口板 (DIB) 连接，能够承受生产环境带来的挑战，同时可提供待测器件所需的性能，对高质量 44GHz 测试波形进行发射和测量。

UltraWaveMX44 完全不会影响当前系统与现有应用的兼容性，可无缝集成到您的制造流程中。 现有的射频测试接口板 (DIB) 可继续与配有 UltraWaveMX44 设备的系统一同使用，且无需对系统进行任何重新配置。

UltraWaveMX44 具备 32 个毫米波端口，由于测试接口板 (DIB) 上无需敏感信号切换，使得测试接口板 (DIB) 的设计非常简单。 此外，该系统可配置多达 128 个毫米波端口，满足增加更多工位的测试需求。

UltraWaveMX44 和 UltraWaveMX20

UltraWaveMX44 和 UltraWaveMX20-D16 板卡使半导体制造商能够以非常经济高效的方式配置其测试系统，用于测试当前及将来的毫米波芯片。

UltraWave MX 系列不会影响测试接口板 (DIB) 的兼容性以及量产测试单元接口的兼容性，可无缝集成至生产环境中。 强大的盲插式同轴信号接口及取得专利的温控电子器件凭借极高的可靠性提供了业内领先的性能。

基于用户投票率靠前的软件环境 IG-XL，测试工程师可快速开发新型器件测试程序并将其应用到生产之中，迎接新的市场机遇。