多模式边界扫描
边界扫描解决方案
IEEE 标准 1149.1 及 1149.6
边界扫描（IEEE 标准 1149.1 及 1149.6）技术的推广，使硅片制造商纷纷将可测试性设计加入到元器件生产中。
泰瑞达为开发人员提供了多种边界扫描测试方案：
- BasicSCAN 和 Scan Pathfinder 为 TestStation电路测试系统
- 指定供应商可提供匹配的台式边界扫描解决方案
BasicSCAN 测试依靠测试设备的探针检测识别被测设备引脚的开路，因此，这种测试方法仅在测试设备能够大量接触被测设备引脚时适用。
测试生成能力及功能：
- 以行业标准的 BSDL 格式和 TestStation 简单的 IBS 文件格式来导入芯片边界扫描描述信息的能力
- 提供图形化的用户界面，让用户轻松输入和修改芯片边界扫描信息
- 根据 BasicSCAN 用户界面中输入的信息生成 BSDL 模型
- 检查指令寄存器捕获值和寄存器长度是否正确
- 检查可选元件的 IDCODE 和 USERCODE 值
- 检测有探针探测的芯片引脚上存在的开路故障
- 检查支持可选指令 RUNBIST 的元器件的内部逻辑
- 自动生成隔离部分，提示测试生成器如何在测试板上其他元器件时关闭当前的边界扫描元器件
- 提供准确的引脚级诊断信息
- 拥有强大的数字测试语言功能，支持复杂的接线设置而无需用户进行任何修改
测试生成能力：
- 支持具有多条扫描通路的电路板
- 根据检测到的扫描通路配置，自动生成边界扫描测试程序
- 自动生成隔离矢量，以便在执行常规电路测试时禁用所有边界扫描芯片
- 支持通过对 UserOption 进行设置，自定义边界扫描测试程序
- 硬件测试
- 开路测试
- 交互测试
- 互连测试
- 短路电容测试
- RunBIST 测试
- 虚拟数字测试
- 用户可在图形报告摘要窗口或以文本文件形式查看详细的测试报告
- 独立的实时边界扫描诊断任务可保障芯片和引脚级诊断信息的准确性
Symphony (JTAG Technologies)
Symphony is an advanced boundary scan solution designed in partnership with JTAG Technologies specifically for manufacturers using TestStation.
ScanExpress (Corelis)
ScanExpress is a popular JTAG test development and execution tool used to test for basic shorts/opens/bad/missing defects and to perform in-system programming of memory and CPLDs on circuit boards.
SCANFLEX / CASCON GALAXY (GOEPEL electronic)
GOEPEL electronic offers an integrated option for TestStation utilizing specifically designed SCANFLEX device in combination with the JTAG/Boundary Scan system software CASCON GALAXY.
