半导体存储测试方案
半导体存储测试方案
为何选择泰瑞达？
我们的客户坚信，泰瑞达的Near DUT技术能够为存储设备制造商提供可靠的性能优势。 我们将通过简要介绍动态存储器和存储内存设备，重点说明设备制造商为何信赖泰瑞达的存储器测试解决方案。
动态存储器也称为易失性存储器。 此类存储器采用双倍数据速率 (DDR) 技术，仅在设备通电时才保存其数据。 另一种超高速存储器称为图形双倍数据速率 (GDDR) 存储器，与图形处理器 (GPU) 协同工作，可以显示具有数千种颜色的超高分辨率图片。
以笔记本电脑为例，中央处理器 (CPU) 使用动态存储器进行工作。 该存储器在处理数据时需要与处理器保持同步，执行诸如运行计算机应用程序、跨网络通信以及与图形处理器协同工作以显示信息等功能。 CPU 的运行速度越快，存储器的工作速度也必须更快。 笔记本电脑的运行速度则取决于 CPU 或存储器的速度，以最慢的为准。 随着处理器运行速度的提高，存储设备的工作速度也必须跟上。 因此，计算机使用不断更新换代的 DDR 设备，而手机等应用则使用低功耗双倍数据速率 (LPDDR) 存储器。
另一类存储设备称为存储内存或非易失性存储器。 此类存储器即使在电源关闭的情况下，也能存储已保存的数据。 还是以笔记本电脑为例，USB 闪存驱动器是一种外部闪存驱动器，需要插入 USB 端口。 该存储器是用于保存信息的辅助存储器。 闪速存储器的速度也在不断提高，使得笔记本电脑的运行速度也在加快。
为何存储设备速度加快对于测试系统的架构至关重要？ 有些存储设备测试系统，通过信号线连接的方式在测试板卡和待测芯片（DUT）之间进行数据传递。 而现在，测试仪器需要以更快的速度与待测芯片进行交互。 各类存储设备的设计理念也是短距离传输数据。 如果测试板卡仍旧采用通过信号线连接且远离待测设备的方式，由于信号的衰减，会导致测试结果存在偏差。
泰瑞达存储器测试解决方案
泰瑞达 Magnum 存储器测试解决方案采用Near DUT测试技术。测试板卡安装在测试接口单元（TIU）和测试头延伸部分内，使得待测芯片（DUT）和测试机之间的距离实现业内最短。 这种独特的架构设计为存储设备制造商提供了“高速测试”的优势，让设备制造商可以全面测试设备性能。 这种设计不仅提高了数据信号的完整性，同时还缩短了数据往返延迟 RTD （Round Trip Delay）时间，进而缩短了读取/修改/写入 (RMW) 模式下的测试时间。此外，这种设计还可实现更高的引脚密度，从而满足高同测数的测试需求。
Magnum 的架构设计可满足当今各种存储设备的测试需求，同时支持未来存储设备的速度测试，适用范围全面覆盖 LPDDR、DDR、GDDR 和闪存设备。
泰瑞达存储器测试解决方案专为高速、精确的数据信号而设计，包括：
Magnum 7H
泰瑞达针对HBM测试推出Magnum 7H平台，其速度和并行测试效率均达到行业领先水平。凭借先进的内存和逻辑测试能力，该平台支持HBM制造过程中的多个关键测试阶段：从基础裸片晶圆测试到切割前HBM测试，再到切割后HBM测试，包括内存核心测试（core test）和速度验证。
Magnum 7
泰瑞达Magnum 7平台采用智能化设计，旨在满足最新一代NAND闪存芯片测试的严苛要求。高速闪存芯片为下一代UFS和PCIe应用提供关键支持。AI革新的动力来自于海量数据，这些数据存储在高性能数据中心SSD以及新一代AI PC、笔记本电脑和移动设备上。Magnum 7的最大配置支持多达18,432个I/O通道，每个通道的速率可达5.28Gbps。
Magnum EPIC
泰瑞达 Magnum EPIC 是针对最新一代 DRAM 设备的高性能测试解决方案。 此类设备则是 5G、AI、云计算、无人驾驶、AR/VR 等技术和高清图形应用的关键驱动因素。
Magnum VU
泰瑞达 Magnum VUy系统是一款灵活的强大测试平台，适用于所有 NAND 和 MCP 产品，包括先进的 UFS 4.1、uMCP 和 PCIe Gen 5 移动和汽车设备，以及ONFI/Toggle NAND和上一代的MCP如 UFS 3.1、PCIe Gen 4、e.MMC 和 eMCP。
Magnum V
泰瑞达的 Magnum V 系统为超高性能快闪存储器及 DRAM 存储器提供高产能和高并行测试效率。 最高配置的 Magnum V 可提供多达 20,480 个数字通道，每个通道的数据速率高达 1700 Mbps。