J750Ex-HD 系列
J750Ex-HD 系列
高效率、低成本测试的行业标准
全球每年生产数十亿集成电路芯片，这些芯片的测试要求差异巨大。 J750Ex-HD 为复杂度较低的混合信号芯片提供了较低成本的测试解决方案。
J750Ex-HD： MCU 测试解决方案
微控制单元 (MCU) 常用于汽车、移动电子和机器人领域。 在您日常生活所需要用到电子设备中，包含有多个 MCU，它们为您提供各种功能，而这些 MCU 很可能是经由泰瑞达 J750 系列平台测试的。 该测试系统的安装基数不断增长，已达到 6000 以上，遍布 50 余个封测外包 (OSAT) 点。泰瑞达 J750 已成为低成本芯片大批量测试的行业标准。
为何 J750ExHD 能成为微控制器测试领域的标杆？ J750 于 1998 年首次推出。 无论是当时还是现在，泰瑞达始终聚焦于减少单工位测试时间，并不断改进并行测试效率，以降低测试成本，同时保持平台跨代兼容性。 J750 系列平台是在役时间较长的ATE 产品系列，在其整个生命周期内保持了强大的兼容性，同时不断推出新板卡，以提高测试性能，降低测试成本。 J750Ex-HD 是其中的最新产品，提供了市面上较高水平的并行性和性能。
成本较低的测试解决方案
在竞争激烈的半导体市场中，降低测试成本至关重要。 J750Ex-HD 系列的测试成本较竞争产品降低了 25-50%，同时提供更高的产能和更多的工位数。 高密度 (HD) 系列板卡和软件提供了更高的工位数，实现了降低测试成本的较快途径。
较快的盈利时间
屡获殊荣的 IG-XL™ 软件使得多工位测试程序的开发速度较竞争对手的 ATE 软件系统提升 30%。 与其他 ATE 编程语言相比，IG-XL 更注重效率，所需代码行数减少了 50%。 其软件环境提倡代码复用，语言无需编译代码，大幅增强了实时调试体验。 由于该软件可在 J750Ex-HD 系列中无缝转换，因此可利用现有的对接接口进行量产层集成，从而降低了量产导入的风险。
汽车 MCU 测试质量
J750Ex-HD 是市面上成熟、久经验证的汽车 MCU 测试平台。 该测试系统旨在提供稳定的芯片测试结果，并配备相应的软件工具，以帮助验证测试程序，提供高质量的测试方案，这一点对汽车市场至关重要。 测试程序验证工具套件可防止编程错误和意外的程序更改。 独有的板卡监测功能避免了对待测芯片的潜在损坏，三温探针接口意味着汽车芯片可以在低温（-25°C 至 -45°C）、环境温度和高温（120°C 至 160°C）下进行测试。
J750Ex-HD 选配件可用于测试 MCU 内的所有元器件，包括：
- 高速数字 800 板卡 (HSD800)，提供数字功能和特性分析测试
- 内存测试选配件 (MTO)，用于嵌入式内存测试
- 数字信号发射和接收 (DSSC)，安装在每个引脚后，用于存储和混合信号
- 深度扫描历史 RAM (DSHRAM)，适用基于 DFT 的 SCAN 测试
- 高电压数字 (HVD) 功能，用于嵌入式快闪存储器测试
- 高密度芯片电源板卡 (HDDPS)，用于提供高性能精密控制的芯片电源
- 高密度 VI源板卡 (HDVIS)，用于高工位数测试，以及利用测试向量进行测量时间点的精确控制
- 混合信号选配件 (MSO)，用于嵌入式模拟元器件的音频测试
- 高密度转换器测试选配件 (HDCTO)，用于测试嵌入式 ADC/DAC 转换器
- 高密度模拟引脚测量单元 (HDAPMU)，用于混合信号测试
J750 – LitePoint RF 测试系统
J750 系统还可搭配 LitePoint 板卡选配件，形成经济高效且完整的量产测试解决方案，适用于全球各无线连接标准。 随着 Bluetooth® 等嵌入式 RF 元器件在微控制器和其他独立的无线 SoC 设备中的普及，J750 扩展了测试的应用范围，继续实现更卓越的成本效率和更快的上市时间。 工程师可利用相同的 LitePoint 板卡进行最初的Bench设计和后续的模块测试，新产品上市的总工作量和时间得到了显著改进。
作为所有 J750 型号（J750、Ex、HD）的升级版本，J750-LitePoint 充分利用了 IG-XL 的开发和调试能力，并集成了 LitePoint RF 工具套件和调制库。 J750-LitePoint 为高吞吐量 RF 信号处理提供了专用的板载仪器 DSP、一个丰富的无线软件库和一套全面的调试工具套件。
作为行业领先的完整测试单元解决方案和服务提供商，泰瑞达充分利用自己的专业、经验和技术领导力，帮助客户在较短的上市时间内实现产品良率和产能最大化。 我们愿与您竭诚合作，从产品设计到生产一路相伴，为您提供标准和定制化的测试单元产品和服务。