Magnum EPIC
Magnum EPIC
存储设备测试超高性能解决方案
泰瑞达 Magnum EPIC 是针对全新一代 DRAM 设备的高性能测试解决方案。 此类设备则是 5G、AI、云计算、无人驾驶、AR/VR 等技术和高清图形应用的关键驱动因素。
LPDDR5、DDR5、LPDDR4x 和图形 DDR 等 DRAM 设备往往采用大批量生产，需要较高的并行测试效率。 当前和未来的高速 DRAM 设备也要求测试解决方案具有优异的信号完整性性能。
新一代存储设备测试
以 5G 为例，新一代 5G 移动网络承诺在吞吐量和延迟方面较 4G 高出数个数量级。5G 还将为多媒体和 VR/AR 应用带来惊人的可能性。 为实现这些可能性，移动设备需要先进的 DRAM 解决方案来跟上速度要求。
传统的存储测试设备架构在向待测芯片 (DUT) 发送高速信号方面存在局限性。 该架构使用信号板卡（引脚电子设备）和设备专用适配器 (DSA) 或负载板之间的长电缆传送信号。 但这种方法会由于信号衰减而降低传送到 DUT 的信号质量。
近 DUT 测试技术
那么 Magnum EPIC 如何改进高数据速率下的信号完整性性能，以满足新 DRAM 设备的需要？
Magnum EPIC 采用了革命性的近 DUT 测试 (NDT) 技术，其中板卡上的信号（PE）直接与 DSA 对接，从而消除了以往用于信号长距离传送的电线。 因此，泰瑞达创新的 NDT 技术在高数据速率下也能提供优质信号完整性性能。 此外，NDT 技术还大大缩短了往返时延 (RTD)，进而减少读取/修改/写入 (RMW) 模式下的测试时间。
Magnum EPIC 还支持其他高级功能，比如全新 DRAM 设备测试所需的源同步。 DUT 输出 DQ 信号时，同步功能提高了眼图的质量，从而提高良率和利润率
配置
Magnum EPIC SSV
泰瑞达 Magnum EPIC SSV 是一款可配置的量产测试系统，适用于封装测试应用。 该测试系统具有 18.4K 以上的高速数字通道（每通道 7Gbps）和 2K 设备电源通道，能够最大限度提高大批量 DRAM 设备所需的并行测试能力。 该系统可配置最多达 128 个内存测试单元 (MTU)，其中包含一个向量生成器和 144 个高速数字引脚。
Magnum EPIC EV
Magnum EPIC EV 是一款独立的工程测试系统，适用于测试程序的开发和调试。 该系统可配置最多达 1,152 个高速数字引脚（每通道 7Gbps）。 测试程序和设备专用适配板 (DSA) 与 Magnum EPIC SSV 量产系统完全兼容。
每一种测试设备配置均可轻松升级，同时保持 DSA 和测试程序的兼容性。
高速 DRAM 设备的量产与特性分析测试
Magnum EPIC 利用了 ATE 软件中的行业标准 Magnum 套件。 该套件简单易用，可极大地帮助测试程序的开发、调试，并从启动阶段平稳过渡到量产阶段。
此外，Magnum EPIC 还支持多芯片封装 (MCP) 设备（即 LPDDR 和 NAND 在一个封装中）的并发测试，从而进一步提高了并行测试的效率。