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低成本,高效率并行测试的测试解决方案


泰瑞达的J750平台是对各种各样的微控制器,FPGA和数字音频/基带设备进行经济高效测试的行业标准。该系统的安装基数超过5,000个,可在50多个OSAT位置广泛使用,并且有一整套用于晶圆分类和最终测试的生产接口解决方案。

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  • 应用

    微控制器

    FPGA

    数字音频/基带设备

    LCD驱动器,触摸屏传感器和触摸显示驱动器集成(TDDI)

  • 优点

    泰瑞达将功耗和性能集成到紧凑,经济的J750系列半导体测试系统中。

    • 低资本成本
    • 轻松地从目前的J750系统升级到J750Ex-HD
    • “零占用空间”设计可最大限度地利用制造车间的空间
    • 用于快速程序开发的IG-XL™软件可自动扩展到多站点,从而节省开发时间和成本
  • 配置

    所有J750系列系统均兼容DIB,并使用IG-XL软件。所有J750系统的测试程序都可以快速迁移到新系统,大多数程序的翻译只需不到一个小时。

    J750Ex

    • 多达512或1024个多功能引脚
    • 数据速率高达200 MHz / 400 Mbps
    • 具有集成SCAN的向量存储深度高达64M每个引脚

    J750Ex-HD

    • 多达2048个多功能引脚
    • 数据速率高达400 MHz / 800 Mbps
    • 每个引脚的矢量存储深度高达128M

    J750-莱特波特

    J750 - LCD驱动器仪器解决方案

  • 系统选项

    J750拥有一套完整的数字,直流和模拟仪器套件,涵盖广泛的消费类半导体测试要求,并提供密度以实现高场地测试。

    • DPS(器件电源),用于精确控制器件功率
    • HDVI S(高密度VI源)用于更高的站点数量和模式控制
    • MSO(混合信号选项),用于嵌入式模拟,音频和混合信号测试
    • CTO(转换器测试选件)用于测试嵌入式转换器
    • APMU(模拟引脚测量单元)用于混合信号测试
    • 用于测试嵌入式ID接口的RFID
    • MTO(内存测试选项)用于嵌入式内存测试
    • DSSC(数字信号源和捕捉)位于每个引脚后面,用于存储器,混合信号和DFT
    • DSHRAM(深度扫描历史记录RAM)
    • HVD(高电压数字)

    RF

  • 软件

    IG-XL-245x100-Teradyne公司Teradyne屡获殊荣的IG-XL软件改变了测试程序的开发。其功能强大且易于使用的图形环境可让工程师快速开发全功能测试程序,从而缩短程序开发和调试时间。旨在解决多站点复杂性问题,IG-XL可以将单站点测试程序自动转换为多站点,加快上市时间并降低测试成本。对于IG-XL,测试工程师专注于实际测试,而不是为测试人员编写代码。

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