板测试
Framescan 技术
非向量测试技术
Framescan 是一种非向量测试技术,可以检测元器件封装以及连接器的引脚开路故障。 Framescan 的优势:
- 提高小型引线框架封装和连接器的故障覆盖率
- 简化测试程序开发
- 对测试环境中可能存在的噪声具有更强的抗干扰能力。
泰瑞达 Framescan 技术的特点:
- 程序开发快速简便
- 实现学习过程自动化
- 引脚故障覆盖率高
- 可提供精确的引脚级诊断
- 与其搭配使用的 Framescan FX 硬件技术先进
- 边界扫描设备激励信号选件可减少测试中的电气接入
Analog Framescan 是一款非加电测试技术,以测试设备自带模拟板卡产生的正弦交流电作为激励源,进行电容耦合测试。 该技术要求测试设备的探针能对被测引脚进行实际的电气接入。
主要特点:
- 非加电测试技术
- 使用标准 ICT 设备
- 引脚开路故障检测可靠
- 适用于集成电路的封装、插座、连接器以及极化电容
- 学习过程自动化
- 与其搭配使用的 Framescan FX 硬件技术先进
Junction Xpress 是检测集成电路焊接开路的非向量测试技术。 Junction Xpress 可用于检测没有内部引线框架的 IC 待测件(包括 MCB 和 COB 技术)。 Junction Xpress 还可以识别电阻值在范围 20 至 50 欧姆以上的边缘焊点。
主要特点:
- 无需夹具夹的过紧,也不需要额外的夹具电子设备
- Xpress 测试程序可在数分钟内自动生成,运行前也无需进行任何手动调试
- 能够利用交流和直流两种激励信号,并且可以从电子电压表上进行采样
- 对当下现代化的集成电路元器件有高达 90-100% 的故障覆盖率
Powered Framescan 是一种加电测试技术,利用电路板边界扫描设备上产生的数字波形生成激励信号。 该技术利用边界扫描设备生成激励信号,因此,测试设备即使没有对网络进行实际的电气接入,也能够检测到元器件引脚上存在的故障。
主要特点:
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- 可在无实际电气接入的情况下检测引脚上存在的故障
- 实现边界扫描和电容耦合测试技术的有机结合
- 测试生成和学习模式实现自动化
- 可使用现有的 Framescan FX 硬件和测试设备板卡
- 创新时钟域技术不受频率影响