ETS-200T
ETS-200T
ETS-200T 分立测试平台以久经验证的 ETS 技术为核心，专门为转塔和旋转式分选机提供真正的分站式测试。 测试系统采用基于向量的Eagle SmartPin™ 技术结合动态cbit来增强用户控制，从而实现产能最大化。 ETS-200T 为 MOSFET 提供从晶圆测试到封装测试在内的完整测试解决方案，包括对 UIL、dVSD、Qg 以及 LCR 外挂仪表的集成控制和数据记录等。
优势
可视化软件
预编写子测试可以帮助用户克服离散测试系统中常见的编程局限性。
与旋转和转塔分选机紧密集成，能够为客户提供完整的封装测试分立解决方案。
方案中集成的帮助文件提供了有关测试的详细说明，以及用于优化测试例程的其他方框图表和工具提示。
应用
ETS-200T 测试系统平均可为超过 16 个工位提供解决方案，可用测试参数包含直流和交流两种。 强大的软件包内含标准化测试的预编程例程和灵活的编程工具，能够轻松满足自定义测试创建需求。 200T 完整集成了交流测试，包括 UIL感性负载动态开关，Cg、Rg 和 Qg 测试项，使200T成为分立器件晶圆和封装器件测试方案的不二之选。
系统选项
Platform scalability is key in the semiconductor test market, and ETS-200T test system uses the same floating analog resources as the ETS-88 product family and ETS-364.
DVI： 数字 V/I 最大量程+/-20V,50微秒采样速率下 支持16位测量精度和0.61mV的最小分辨率
HPU-100： 单通道 V/I，具有 10 个电流范围，工作电压最高达 +/-100 V
SPU 系列（100、112、500）： V/I 套件能够满足从 100 伏/2 安至 500 伏/50 毫安的各种不同测试要求，每条通道都具备完整的 AWG 和数字化功能
软件
可视化界面包含了一个图形用户界面，允许在无需实际编写代码的前提下进行快速编程 借助这种创新的用户界面，用户能够直接输入特定的测试条件，自行定义测试流程。 预编程测试例程序为用户提供了简单易用的测试编程方法，避免了编程错误的发生，同时克服了分立测试系统中常见的编程局限性。 可视化封装测试软件套件提高了测试程序开发效率。
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