TestConX China线上峰会开讲，泰瑞达与你畅聊测试芯天地
TestConX China线上峰会
您想从行业专家的角度了解半导体测试的现在和未来吗？想同您的同事或业内同行加深交流？如果这是您所需的，那就快来报名参加11月1日至11月4日为期四天的TestConX中国！泰瑞达将带来干货满满的专题演讲，与您分享具有前瞻性的观点和分析，席位已备，敬候您的佳音！
演讲时间
11:00-11:30
演讲主题
ETS-800平台的阈值测试方法总结介绍
演讲人
Cham Li
演讲摘要
阈值测试是一种在很多的芯片测试中都很常见的测试项，有一些不同类型的阈值测试，和两种主要的测试方法类型被称之为逐步搜索和二分法搜索。本演讲基于泰瑞达的ETS-800测试平台主要介绍一些不同的逐步测试方法，并从它们的测试时间、并行度、稳定性、编程调试的难易程度等方面进行比较。最后，我们会简单介绍下阈值逐步测试代码库，它把所有不同的测试方法集成到一个单一的测试函数中，这使我们的代码开发和调试过程变的更加简单和灵活。
5G/mmWave专场
演讲时间
9:30-10:00
演讲主题
Air over stub对于56Gbps Serdes和mmWave的影响及优化
演讲人
Eric Chen
演讲摘要
随着终端需求的发展，高频信号的应用（如56Gbps Serdes，mmWave…）一直在挑战着PCB的制造能力，并且对信号仿真精度要求越来越高。Via是PCB（应用板，测试板…）的常见结构，并且Via的stub对任何高频的信号质量都有直接的影响。本演讲将分析Via stub对于56Gbps Serdes，mmWave信号的影响，介绍通过优化Via stub带来的高频SI性能提升，并且会给出PCB生产流程以及仿真模型的相关建议。
演讲时间
10:00–10:30
演讲主题
实现2ps/inch差分对内延迟的112G PAM4设计
演讲人
Alex Lu
演讲摘要
对于差分信号，差分对内延迟差直接影响到信号质量的好坏。所以，对于112Gbps PAM4设计，差分对内等长的要求必不可少。然而，如果不考虑玻纤效应的影响，即使差分对内等长配到1mil之内，差分对内延迟差依然不会等于0ps。本演讲首先简要说明了差分对内延迟是如何影响其信号质量的。然后从理论、仿真和测试几个方面，说明了玻纤效应为何会导致大于10ps/inch的延迟。最后讨论了4种优化玻纤效应延迟的方法：第一种是采用使用扁平开纤玻璃布的板材，其核心思想是减小板材内部dk值的差异；第二种方法是旋转CAM文件或者走线，其核心思想是平衡差分对内，即P/N之间的dk波动；第三种方法是采用2 ply的PP和Core来设计叠层，其核心思想也是减小板材内部dk值的差异；第四种方法是采用具有low-dk特性的玻璃纤维布，其核心思想是减少玻璃布和树脂之间dk值的差异。本演讲对上述四种方法进行了仿真验证，并且通过测试证明，在同时采用方法1、2、3之后，差分对内延迟可以减小到2ps/inch。
11月4日
Robots，Machine Learning&More专场
演讲时间
10:00-10:30
演讲主题
使用DPU-16板卡驱动两个以上的引脚电平
演讲人
Evan Chen，Kristine Chen
演讲摘要
随着全球半导体技术的飞速发展，减少芯片的封装尺寸和冗余的芯片引脚是一种趋势。例如某种芯片会把时钟信号引脚和使能信号引脚结合到一起，作为单一的引脚，以限制某些scan链结构的芯片引脚数。因此，需要在这个单一的芯片引脚上驱动两个以上不同的引脚电平才能产生组合信号。本演讲将探讨几种关于如何使用DPU-16板卡在一个引脚上驱动两个以上不同引脚电平的解决方案。首先，描述了背景和需求。其次，介绍了DPU-16板卡的性能参数，以及展示如何使用VTT模式驱动第三个引脚电平及其限制。之后，探索了其他的解决方案，例如添加额外的电路和通过两个DPU通道之间连接电阻器来驱动更多的引脚电平。最后，通过使用合适的信号格式，它可以生成预期的波形形状，只需一个DPU通道即可获得正确的引脚高低电平比率。05
演讲时间
10:30-11:00
演讲主题
基于ETS364平台测试高精度的SAR ADC
演讲人
Susan Su
演讲摘要
SAR ADC主要应用于电池驱动系统、工业控制和远程数据采集。它具有高分辨率、高精度、低噪声等特点。基于ETS364平台上开发16位SAR ADC的硬件设计和测试方案开发是一个挑战。QPLU是一种基于伺服回路算法的仪器，具有低噪声、高稳定性、高精度的特点，可用于测试ADC的线性度。本演讲将重点研究如何应用ETS364资源以及优化硬件设计，从而达到良好的测试性能。演讲内容主要包括以下五个方面：1. 如何选择前端滤波器来优化ADC性能。2. 如何设计滤波器来改善ADC动态性能。3. 基于伺服回路算法的QPLU快速抖动法可以快速准确地用于16位SAR ADC线性度测试，介绍了如何在调试过程中设置QPLU参数。4. 提出了一种基于QPLU抖动DAC来显示转换噪声的方法，以及如何改善转换噪声。5. 如何通过硬件电路来改变ADC输出代码格式，便于对捕获的数据进行灵活的处理和分析。