Test Cell Solutions: Enabling Semiconductor Wafer and Package Test
作为行业领先的完整测试单元解决方案和服务提供商，泰瑞达充分利用自己的专业、经验和技术领导力，帮助客户在最短的上市时间内实现产品良率和产能最大化。 我们愿与您竭诚合作，从产品设计到生产一路相伴，为您提供标准和定制化的测试单元产品和服务。
首先，我们会评估您的测试单元需求，以提供定制化的解决方案帮助您应对挑战。 在与业界领先的探针台、分选器、接触器和探针头供应商合作与协调过程中，我们可以设计并部署配备有自动化测试设备 (ATE) 的集成式测试单元解决方案，最大限度加快进入量产阶段的速度。 为使客户能够持续享受我们的测试单元解决方案，我们的解决方案还提供有全球领先的维护和服务支持。
我们为晶圆和封装测试提供集成式、久经验证的解决方案
晶圆测试解决方案
泰瑞达探针接口解决方案实现了测试设备与多种行业领先的设备探针台进行对接。 我们与全球领先的探针台公司合作，利用可配置的接口架构，为客户提供最具成本效益的晶圆测试解决方案。 我们的接口支持：
- 上载探针塔接口
- 下载探针塔接口
- 无探针塔接口
封装测试解决方案
如果您与泰瑞达合作为新一代高级封装设备开发封装测试解决方案，您就可充分享受泰瑞达多年以来的专业经验。 我们在与全球领先的分选器公司合作过程中积累了丰富的专业能力和知识，我们的解决方案经过了全球 1,000 余测试单元的考验。 我们的分选器接口解决方案支持泰瑞达测试设备与各种设备分选器对接，包括：
- 标准待测芯片的上分选器接口
- 标准待测芯片的垂直分选器接口