Titan
Titan
异步系统级测试平台
Titan 为高水准的半导体性能测试，提供了灵活性、可扩展性和高密度的，系统级测试 (SLT) 平台。Titan 是泰瑞达推出的一套专用解决方案，可满足大批量移动应用处理器的SLT需求。
随着工艺节点的不断缩小，半导体元器件的复杂度也在不断增加。 当前 IC 设计人员设计的片上系统 (SoC) 产品更加完整。这些产品不但拥有嵌入式软件，还包括处理器内核、模拟信号 I/O、数字信号 I/O、调制解调器和（或）其他 IP 模块。 半导体制造商可以将 SLT 作为晶圆和封装测试之外的第三道防线，利用它对软件和硬件进行测试并检查 IP 块间的连接，获得其他方法无法比拟的测试效果。 Titan 提供了更广泛的测试覆盖率，可满足终端客户对故障率的严格要求，提高产品质量。
久经量产验证的解决方案
Titan 的异步插槽架构带来了无与伦比的操作效率。 与传统的批处理系统相比，该架构改进了利用率并将产能提高了 30%，从而降低了针对大量产品组合的测试成本。
异步插槽结构还提供了在系统上同时测试两种不同产品的独有功能，其内部的机器人视觉系统则确保了半导体设备在测试夹具中具有较高的器件排布精度。 测试夹具采用了 ATE 式的互连集成到具有高信号完整性接口的系统中，可提供最高达 20Gbps 的数据速率，可提供超过 10万次插入芯片的可靠测试。
异步测试能力还允许在不停止系统操作的情况下执行维护。
Titan 系统的模块化设计为各种设备封装类型（包括 PoP、BGA、PGA 和 LGA）的测试提供了久经量产验证的灵活性。 其灵活性允许客户将现有的硬件集成到功能性机架、插槽和/或托架中。 这种硬件和软件的重用实现了测试程序的通用性、更快的程序部署速度和高效的程序支持能力。
当需要产品换代时，自动化的流程较大限度降低了更换待测产品所需的时间。
Titan 能够以同样小巧的占地面积提供 320 或 424 个工位的系统，使得每平方米的工厂占地面积中都可测试大量芯片。
更小巧但有 20 个工位的 Titan 开发站也可用于 DUT 板设计验证测试、开发和验证测试程序、DUT 板 HW 问题故障排除、DUT 板测试和维修活动，以及在非量产环境中启用 SLT。 该开发站允许研发、QA 和量产部门采用相同的 DUT 测试板，以通用的工程和量产平台更快实现的量产。
基线配置
系统主机
- 每台系统最多达 424 个测试工位
- 加载和测试用的插槽完全异步
- 15°C 风冷，散热功率最高达 50W
- 最多可提供 15 个 fail bin
- 系统继续运行时也可使用测试工位
异步测试插槽
- 每台测试计算机 1Gbps 以太网端口
- 每颗 DUT 1 个串行端口
- 每颗 DUT 连接1 个支持 JTAG 的端口
- 每个测试板 1 个 SPI 接口
- V测试板 电源： 24V
- 维持 DUT 和 测试板电源供应： 每个工位最大 38W
- 功率控制/测量
转换套件
- Titan 架构使得设备转换更加灵活，转换时间更短，成本更低
- 每次设备类型转换只需泰瑞达或客户开发极少的元器件：
- 插座盖（泰瑞达）
- DUT 穿梭机（泰瑞达）
- 更新特定设备的视觉作业（泰瑞达）
- 测试板和插座（客户或泰瑞达）