半导体存储
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为何选择泰瑞达？
我们的客户坚信，泰瑞达的Near DUT技术能够为存储设备制造商提供可靠的性能优势。 我们将通过简要介绍动态存储器和存储内存设备，重点说明设备制造商为何信赖泰瑞达的存储器测试解决方案。
动态存储器也称为易失性存储器。 此类存储器采用双倍数据速率 (DDR) 技术，仅在设备通电时才保存其数据。 另一种超高速存储器称为图形双倍数据速率 (GDDR) 存储器，与图形处理器 (GPU) 协同工作，可以显示具有数千种颜色的超高分辨率图片。
以笔记本电脑为例，中央处理器 (CPU) 使用动态存储器进行工作。 该存储器在处理数据时需要与处理器保持同步，执行诸如运行计算机应用程序、跨网络通信以及与图形处理器协同工作以显示信息等功能。 CPU 的运行速度越快，存储器的工作速度也必须更快。 笔记本电脑的运行速度则取决于 CPU 或存储器的速度，以最慢的为准。 随着处理器运行速度的提高，存储设备的工作速度也必须跟上。 因此，计算机使用不断更新换代的 DDR 设备，而手机等应用则使用低功耗双倍数据速率 (LPDDR) 存储器。
另一类存储设备称为存储内存或非易失性存储器。 此类存储器即使在电源关闭的情况下，也能存储已保存的数据。 还是以笔记本电脑为例，USB 闪存驱动器是一种外部闪存驱动器，需要插入 USB 端口。 该存储器是用于保存信息的辅助存储器。 闪速存储器的速度也在不断提高，使得笔记本电脑的运行速度也在加快。
为何存储设备速度加快对于测试系统的架构至关重要？ 有些存储设备测试系统，通过信号线在板卡和待测芯片之间进行数据传递。 而现在，测试仪器需要以更快的速度与待测芯片进行交互。 各类存储设备的设计理念也是短距离传输数据。 如果板卡采用有线连接且远离待测设备，则测试设备所分析的设备信号可能会衰减。
泰瑞达存储器测试解决方案
泰瑞达 Magnum 存储器测试解决方案采用Near DUT测试技术。 板卡位于测试接口单元和测试头延伸部分内，使得待测芯片和测试仪器之间的距离实现业内最短。 这种架构设计方面的突破给存储设备制造商提供了“高速测试”的优势，让设备制造商可以全面测试设备性能。 这种设计不仅提高了数据信号的完整性，还缩短了往返延迟 (RTD) 时间，进而缩短了读取/修改/写入 (RMW) 模式下的测试时间。此外，这种设计还可实现更高的引脚密度，从而满足并行工位数量更多的测试需求。
Magnum 的架构设计可满足当今各种存储设备的测试需求，同时支持未来存储设备的速度测试，适用范围全面覆盖 LPDDR、DDR、GDDR 和闪存设备。
泰瑞达存储器测试解决方案专为高速、精确的数据信号而设计，包括：
Magnum V
泰瑞达的 Magnum V 系统为超高性能快闪存储器及 DRAM 存储器提供高产能和高并行测试效率。 最高配置的 Magnum V 可提供多达 20,480 个数字通道，每个通道的数据速率高达 1600 Mbps。
Magnum VUx
泰瑞达 Magnum VUx 系统是一款灵活的超集测试平台，适用于所有 NAND 和 MCP 产品，包括最先进的 UFS 3.0、uMCP 和 PCIe Gen 4 移动和汽车元件，以及 SSD NAND ONFI、Toggle 和传统的 NAND 产品（如 UFS 2.1、PCIe Gen 3、e.MMC 和 eMCP）。
Magnum EPIC
泰瑞达 Magnum EPIC 是针对最新一代 DRAM 设备的高性能测试解决方案。 此类设备则是 5G、AI、云计算、无人驾驶、AR/VR 等技术和高清图形应用的关键驱动因素。