高速存贮器测试解决方案

UltraFLEX-M以先进的测试技术和已被证明的UltraFLEX测试系统的架构为基础,确保以最低的测试成本、最高的测试质量来进行高速存贮器器件的测试。

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  • 应用

    计算

    DDR3,DDR4

    图像

    GDDR3,GDDR5,HBM

    移动

    LPDDR2,LPDDR3,LPDDR4

  • 优点

    可伸缩的平台

    • 工程化、封装和KGD(已知的好芯片)探针测试应用的一个平台
    • 各种运用中100%兼容的硬件和软件
    • 易于简单的重新配置和重新部署的通用插槽结构

    高性能的数字

    • 规范提高了测试合格率和增加测试余量
    • 可重新配置的通道的配置,包括每个通道都是一个“I/O”通道的模式
    • 多代(产品)能力
    • 降低整个测试成本

    高性能器件电源供应

    • 可编程动态DPS响应为DUT提供最佳功率输出以提高合格率
    • DPS电压和电流分析图像化显示了通道在测试过程中如何对浪涌作出反应

    每引脚参数测量

    • 为了更快的测试时间,在所有的引脚上进行并行的参数测试
    • 引脚分片处理器(Pin-Slice-Processors)并行工作,以确定每个PMU的测试结果

    IG-XL软件

    • 图形化和易于使用加快了测试程序开发和器件特征化
    • 使用Microsoft Excel来构建,这提供了一个熟悉且稳定的编程环境
  • 配置

    ULTRAFLEX-MEULTRAFLEX-MConfigs-300x120-Teradyne.png

    • 12插槽工程平台

    ULTRAFLEX-MP

    • 36插槽高产量平台

    ULTRAFLEX-HPC

    • 72插槽高产量平台

    ULTRAFLEX,HPI

    • 36插槽KGD(已知的好芯片,known good die)的探测平台
  • 系统选项

    数字

    • HPM 2.8 G扩展-IO
    • HPM 4G 扩展-IO
    • HPM 8G 扩展-IO (提供跳动插入选项)

    模拟

    • DC30
    • HDVS
    • UVS256
  • 软件
    IG-XL-245x100-Teradyne公司泰瑞达屡获殊荣的IG-XL软件改变了测试程序的开发。它强大而又易于使用,图形界面使得工程师能够快速开发出功能齐全的测试程序,减少程序开发和调试时间。为了解决多工位的复杂性,IG-XL可以自动地将单工位测试程序转换为多工位,加快上市时间并降低测试成本。使用IG-XL,测试工程师专注于实际的测试本身,而不是忙于为测试机台编写代码。

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