为多工位测试简化程序开发

泰瑞达屡获殊荣的IG-XL软件改变了FLEX,  UltraFLEXJ750系列测试仪的测试程序开发。它强大而又易于使用,图形界面使得工程师能够快速开发出功能齐全的测试程序,减少程序开发和调试时间。为了解决多工位的复杂性,IG-XL可以自动地将单工位测试程序转换为多工位,加快上市时间并降低测试成本。使用IG-XL,测试工程师专注于实际的测试本身,而不是忙于为测试机台编写代码。

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  • 更快的上市时间

    与竞争对手的ATE软件系统相比,IG-XL使多工位程序的开发速度提高了30%

    • 用于测试的Visual Basic:强大的、易于使用和学习的编程语言
      • 以器件为中心编程
      • 高效:与其他ATE编程语言相比,代码行数不到50%
      • 鼓励代码重用
      • 无需编译 - 启用“区域”中的调试
    • 本地多站点天生的多工位编程 =不需要任何努力就实现从单工位到多工位的转换
      • 工位选择和激活的自动管理
      • 单工位编写,通过工位感知变量,可运行到多工位
      • 工位感知流程控制
    • True CT = 更快时间来优化并行测试
      • 连续并行执行相同的测试代码
    • 模块化测试开发 =高效的协作和代码重用
  • 最佳产量

    IG-XL能够早在产品的爬坡期实现最佳的产量,从而更快地获得利润

    • 新IG-XL用户可以不在高级用户的帮助下编写高效的程序
    • 天然的多工位编程,从单工位到多工位的转换不需要额外努力
      • 工位选择和激活的自动管理
      • 使用工位感知变量,单工位编写,可运行到多工位
      • 工位感知流程控制
    • 纯并行软件和系统告知(Pure Parallel Software and System Broadcast)能够实现高并行测试效率
    • 背景DSP使用户能够在不需要任何特殊编码的情况下,利用背景多线程DSP计算和数据移动
    • True CT和CTOptimizer能够在不进行任何代码修改的情况下实现高并行测试效率
    • 时间表工具用图形视图来展现执行中所有方面,以帮助测试工程师快速识别潜在的产量瓶颈
  • 更快达到可获得的产率

    IG-XL提供了必要的工具来有效的高效地收集提高产量所需的诊断数据

    • 为了提高产量测试工程师必须收集大量的测试数据而不影响测试成本。通过使数据收集容易、廉价,IG-XL用户可以更快地获得应该有的合格率。
    • 使用扫描失效处理模板(Scan Fail Processing Template,用户可以快速地以STDF或EDA特定的格式收集和记录扫描失效信息
    • IG-XL开放了可扩展的设计,使它易于集成到任何人设计和测试的生态系统中
    • 与Teseda扫描工作台(Teseda's Scan Workbench)一起,IG-XL为失效分析实验室、器件的启动和表征提供了一个实时的交互式扫描失效的调试分析解决方案
  • 更少的缺陷遗漏

    测试程序错误可能导致缺陷遗漏。IG-XL的工具可以帮助测试工程师在产品量产前消除编程问题

    • IG-Review可以对常见的编程错误和其他潜在问题进行审核
    • Real Time Audit Tool(实时审计工具)在执行过程中监视测试机的编程,以确保设备特定的规则不会被破坏,不会导致超出器件或接口硬件的限制
    • IG-Diff帮助用户比较测试程序版本,并建立发布文件,以确保不会将非计划中的变更投入生产


  • 软件解决方案

    IG-XL是一个可扩展、可定制的软件环境,由用户社区和独立软件供应商(ISVs, independent software vendors)开发的丰富的扩展软件解决方案。

    这些解决方案扩展了IG-XL的设计到测试、测试开发、调试和数据分析的功能。